KEMS3250 R枚ntgendiffraktiomenetelmien perusteet (6 op)
Osaamistavoitteet
Opiskelija ymm盲rt盲盲 r枚ntgenkristallografisten menetelmien teoreettiset perusteet ja osaa soveltaa niit盲 perustasolla kiteisten aineiden karakterisoinnissa yksikidediffraktioon perustuvilla menetelmill盲.
Hahmottaa yksikiderakenneratkaisumenetelm盲n kokeellisella tasolla sek盲 tiedostaa mittaustekniikkaan liittyvi盲 n盲yte- ja laiteteknisi盲 muuttujia.
Suoritustavat
Kurssi suoritetaan harjoitusteht盲vill盲, osallistumalla laitedemonstraation ja kurssin p盲盲tteksi j盲rjestett盲v盲ll盲 lopputentill盲.
厂颈蝉盲濒迟枚
Kurssilla k盲sitell盲盲n r枚ntgenkristallografian perusteita (mm. r枚ntgen s盲teilyn synty, kidej盲rjestelm盲t, symmetria), laite- ja mittaustekniikkaa (yksikidediffraktio) ja kiderakenteen ratkaisemiseen sek盲 ratkaisun kuvantamiseen liittyvi盲 metodeja sek盲 ohjelmistoja. Kurssi sis盲lt盲盲 laitedemonstraation ja harjoitusty枚n (kiderakenteen ratkaisu).
尝颈蝉盲迟颈别诲辞迟
Kurssi luennoidaan vuosittain kolmannessa jaksossa.
Oppimateriaalit
Luentomateriaali ja lis盲aineistona alan kirjallisuus.
Tenttimateriaali: luentomateriaali ja oppikirja (Werner Massa, Crystal structure determination, Springer-Verlag Berlin Heidelberg, Germany, 2000)
Arviointiperusteet
Kurssi suoritetaan harjoitusty枚ll盲 ja kurssin p盲盲tteksi j盲rjestett盲v盲ll盲 lopputentill盲.
Kurssi voidaan suorittaa my枚s kirjatenttin盲.
Arvosanakohtaiset arviointiperusteet
Kurssin lopuksi suoritettavan lopputentin, yleisen tentin ja kirjatentin maksimipistem盲盲r盲 on 24. Alimpaan hyv盲ksyttyyn arvosanaan (1/5) tarvitaan 50% pisteist盲.
Esitietovaatimukset
Kemian aineopinnot