FYSS5455 Elektroni-, fotoni- ja ionisuihkumenetelm盲t materiaalitieteiss盲 (5 op)
Osaamistavoitteet
Opintojakso antaa kattavat perustiedot moderneista materiaalitutkimuksen perusmenetelmist盲, painottuen Jyv盲skyl盲ss盲 k盲ytett盲viss盲 oleviin. Kurssi on erityisen hy枚dyllinen nanotieteilij枚ille ja materiaalifyysikoille mutta my枚s ydinfysiikkaan erikoistuville. Kurssi soveltuu hyvin my枚s materiaalitutkimukseen perehtyneille kemisteille. Opintojakson suoritettuaan opiskelija osaa selitt盲盲 perusteet erilaisista ohutkalvojen kasvatusmenetelmist盲 sek盲 erilaisten ohutkalvojen analyysimenetelmien ja k盲ytettyjen ilmaisimien fysikaaliset perusteet, mahdollisuudet ja rajoitukset. Opiskelija osaa valita sopivimman analyysimenetelm盲n kunkin analyysitarpeen mukaan, tehd盲 ohjatusti ionisuihkupohjaisia mittauksia ja itsen盲isesti analysoida mitattua dataa ja tehd盲 mittauksia v盲hint盲盲n yhdell盲 ei-kiihdytinpohjaisella analyysimenetelm盲ll盲.
Suoritustavat
Harjoitusteht盲v盲t, projektity枚, tentti.
厂颈蝉盲濒迟枚
Energeettisten ionien, elektronien ja fotonien vuorovaikutus materiaalien kanssa; erilaiset ohutkalvojen kasvatusmenetelm盲t; ioni-, fotoni- ja elektronisuihkupohjaiset ohutkalvojen ja pintojen analyysimenetelm盲t; projektity枚, jossa tehd盲盲n itse atomikerroskasvatuksella ohutkalvoja, karakterisoidaan ohutkalvo v盲hint盲盲n kahdella eri menetelm盲ll盲, laaditaan raportti tehdyist盲 analyyseist盲, esitet盲盲n tulokset loppuseminaarissa.
尝颈蝉盲迟颈别诲辞迟
Ajankohta syksyn 1. periodi, joka toinen vuosi alkaen syksyst盲 2017.
Arviointiperusteet
Arvosana m盲盲r盲ytyy loppukokeen (60 %), kotiteht盲vien (20 %) ja projektity枚n (20 %) perusteella.
Esitietovaatimukset
Pohjatietona opiskelijoille suositellaan opintojaksoa FYSS6310 Mittaustekniikat ja -j盲rjestelm盲t tai vastaavaa.