FYSS5456 Heliumionimikroskopia (1 op)
Osaamistavoitteet
Opintojakson suoritettuaan opiskelija osaa esitell盲 heliumionimikroskoopin toimintaperiaatteen ja p盲盲tell盲 t盲m盲n perusteella tekniikan edut ja rajoitukset muihin mikroskopiatekniikoihin verrattuna. Opiskelija osaa arvioida ja perustella heliumionimikroskopian soveltuvuutta annettujen n盲ytteiden kuvantamiseen (mm. biologiset n盲ytteet, materiaalitieteen ja nanoteknologian n盲ytteet). H盲n hallitsee heliumionimikroskoopin periaatteet sek盲 k盲ytt枚枚noton ja kuvantamisen vaiheet k盲yt盲nn枚ss盲 siin盲 m盲盲rin, ett盲 h盲net voidaan kouluttaa laitteen k盲ytt枚枚n lyhyess盲 ajassa.
Suoritustavat
Keskustelu ja vuorovaikutteiset tilaisuudet, demotilaisuus, tentti.
厂颈蝉盲濒迟枚
Heliumionimikroskoopin toimintaperiaate; heliumionimikroskoopin t盲rkeimm盲t edut perinteiseen pyyhk盲isyelektronimikroskooppiin n盲hden (resoluutio, kyky kuvantaa eristeit盲, ty枚st盲minen neon-suihkulla); heliumionimikroskoopin k盲yt盲nn枚n k盲ytt枚; n盲ytteenvalmistus HIM-kuvantamiseen.
尝颈蝉盲迟颈别诲辞迟
Toteutetaan syksyll盲 2017, jonka j盲lkeen tarvittaessa.
Kirjallisuus
| ISBN-numero | Tekij盲, julkaisuvuosi, teoksen nimi, julkaisija |
|---|---|
| 978-1-4614-8659-6 | David C. Joy, Helium Ion Microscopy 鈥� Principles and Applications, ISBN 978-1-4614-8659-6. |
Arviointiperusteet
Arvioinnin edellytyksen盲 on l盲sn盲olo yhteisiss盲 tapaamisissa ja demotilaisuudessa. Opintojakson suorittaminen edellytt盲盲 tentin hyv盲ksytty盲 l盲p盲isy盲.